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PCB的热冲击可靠性测试

关键的外卖

  • 热冲击是指单板在短时间内加热到非常高的温度。

  • 热冲击可靠性测试用于确保您的单板在发生热冲击时不会失效。单板和部件可能会出现故障。

  • 有一些设计选择可以确保产品中的PCB符合IPC Class 2或Class 3,或符合MIL-STD标准。

PCB的热冲击可靠性测试

确保PCB可以承受热冲击可靠性测试的热量。

让任何东西在很短的时间内加热到很高的温度,它可能会失败。你的电子产品也是如此,它们可能需要在非常炎热的环境中生存。更重要的是在极端温度之间缓慢和快速的循环,这对组件和PCB本身的结构施加了极大的压力。如果你能设计你的板承受热冲击和压力,你的板可能有一个更长的寿命。

确保您的电路板能够承受较大的温度变化,需要了解热冲击可靠性测试。通过了解实际情况下的主要故障点,你的电路板有机会在大的热冲击中幸存下来。让我们看看失效的主要原因和热冲击可靠性测试中最常见的失效点。

什么是热冲击可靠性试验?

热冲击可靠性测试是一种概念上简单的测试:在短时间内将电路板带到极端温度下,测试人员确定电路板是否会因为这种极端温度变化而失效。显然,术语“极端温度变化”可能意味着任何事情,什么是合格的板故障取决于设计要求和管理你的产品的标准。IPC根据MIL-STD标准为热冲击测试和可靠性指定了通用标准。

IPC-TM-650 2.6.7标准定义了多种材料的热冲击可靠性测试要求。另一种标准的国防物品热冲击可靠性试验方法是MIL-STD-202G,方法107。两个标准都规定了由于极端温度值之间的变化而检查结构可靠性。这些材料的温度测试范围是根据玻璃化转变温度(Tg)用于板的基板(IPC-TM-650 2.6.7)或超过标准范围(MIL-STD-202G)。

2.6.7热冲击测试

该测试基于类似MIL-STD热可靠性测试的方法。设定测试的上温度为层板材料的Tg以下。具体来说,IPC D板被指定承受的热冲击范围为-55°C,最低为Tg - 10°C,回流温度- 25°C或210°C。这涵盖了大多数中高Tg层合板,以及商业或工业产品的最典型的操作条件。

MIL-STD-202G热冲击测试

本标准规定了使用空气对空气法或液体对液体法的标准试验。这些方法被设计用来控制进入被测设备(DUT)的传热速率,它们各自有不同的特性。下表总结了这两组方法。

空空

Liquid-to-liquid

DUT在温度区之间移动年代

难以在不同温度的液体之间移动DUT年代

对DUT的传热率低

对DUT的传热率高

DUT封闭在笼中,增加了热质量和停留时间

涉及的液体往往是不稳定的和昂贵的

当DUT暴露在高温环境下时,需要在该环境中继续工作,使系统达到热平衡。测试指定驻留时间,这是DUT应该在环境中保持的时间,以允许它达到平衡。因为空气对空气的传热比液体对液体的传热低,空气对空气的测试方法将有更长的停留时间。驻留时间也取决于被测系统的质量;在两个测试中,较重的PCB将有较长的停留时间。

MIL-STD-202G的测试范围分为不同的类别。低端测试温度可低至-65°C,高至200°C(用于液对液测试)500°C(用于空对空测试)。空对空试验是比较典型的真实条件,特别是在飞机或汽车.然而,它们不能模拟温度上升非常快的情况,因此,当操作过程中存在快速、较大的温升危险时,液对液试验是更好的选择。

什么决定了热可靠性?

无论我们担心的是热循环还是热冲击,决定热可靠性的重要参数是各种板材CTE值的差值。这包括层压材料、焊料和印刷导体材料。此外,导体的延展性影响导体是否会在热冲击中断裂。韧性更强的材料可以承受更高的应变率,因此它可以维持更快的升温。

随着板温的增加,由于板材料以不同的速率膨胀,对不同的结构施加了应力。由于CTE值的差异,热冲击会导致以下几种失效形式:

  • 焊料断裂:焊料球中的拉伸和剪切应力往往在球的顶部和底部附近集中,导致断裂,特别是在不同金属之间的脆性界面处(见下文)。

  • 通过断裂:应力集中在孔内的位置取决于长宽比和几何形状(通孔比盲目的通过);阅读这篇文章了解更多

  • 分层:当分层发生时,导体和基板在极端变形下发生分离。

热冲击可靠性试验中含裂纹扩展的脆性焊料断裂

假彩色扫描电镜图像显示脆性焊料断裂和裂纹扩展。[

这里有一些方法可以防止由于热冲击导致的故障:

  • 紧密匹配CTE值:导体、焊料和基板材料的CTE值应尽可能相似。

  • 使用高Tg基板材料:当基板的Tg值较大时,在更广的温度范围内,基板的CTE值会保持较低。

  • 使用高导热的基板:如果您的电路板将在热环境中运行,有热冲击的危险,使用高导热的基板(例如,金属芯或陶瓷)将允许热量迅速消散,并可能达到一个较低的平衡温度。

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